Röntgendiffraktometer

Das Stresstech Xstress G2R ermöglicht den Nutzenden Eigenspannungen im oberflächennahen Bereich zu messen.

Einarbeitungszeit zur Selbstständigen Bedienung, ohne Vorkenntnisse: ca. 16 h

	Das Stresstech Xstress G2R ist ein Röntgendiffraktometer zur halbautomatischen Erfassung und Analyse von Oberflächeneigenspannungsprofilen.
MOS Detektor Auflösung	0,03° - 0,06°/ pixel 2θ-winkel
2θ-Bereich	Stufenlos verstellbar zwischen +100° und 165°
Röntgenröhre	Maximaler Ausgang: 30 kV bei 10 mA = 300 Watt
Kollimator	Austauschbar, Punktgröße: 1, 2, 3, 4 und 5 mm
Messentfernung	Varibel zwischen 50, 75 und 100 mm
Software	Windows basiert (auf Rechner vor Ort installiert) d-sin²χ Messmodus Messmodus Materialbibliothek inkludiert Diverse Analysmodi inkludiert